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开关电源光耦损坏造成的现象介绍

技术文章 2022-06-290开关电源光耦损坏造成的现象介绍创始人

        在开关电源中,光耦是开关电源中反馈输出电压的情况给前级控制电路的。如果光耦损坏,可能导致输出电压异常,还有可能会使电路进入过压,或过流保护状态,而无电压输出。如果光耦是用来控制电源的启停的,光耦坏了,可能造成电源无法启动或无法停机。如果光耦是用于稳压负反馈,光耦坏了,可能造成输出电压异常、保护性停机、电源损坏等现象。

光耦基本原理

  在光电耦合器输入端加电信号使发光源发光,光的强度取决于激励电流的大小,此光照射到封装在一起的受光器上后,因光电效应而产生了光电流,由受光器输出端引出,这样就实现了电一光一电的转换。

光耦坏了对电路的影响

  在开关电源中,光耦是反馈输出电压的情况给前级控制电路的。如果光耦损坏,可能导致输出电压异常,还有可能会使电路进入过压,或过流保护状态,而无电压输出。开关电源是利用现代电力电子技术,控制开关管开通和关断的时间比率,维持稳定输出电压的一种电源,开关电源一般由脉冲宽度调制(PWM)控制IC和MOSFET构成。

  开关电源中的光耦损坏,导致电源电路不能稳压,严重的能导电源不工作。

  随着电力电子技术的发展和创新,使得开关电源技术也在不断地创新。目前,开关电源以小型、轻量和高效率的特点被广泛应用几乎所有的电子设备,是当今电子信息产业飞速发展不可缺少的一种电源方式。

此光照射到封装在一起的受光器上后,因光电效应而产生了光电流,由受光器输出端引出,这样就实现了电一光一电的转换。

光耦的测试

  光耦也是损坏概率较大的元件,在线测试光耦功能是否正常非常有意义。根据统计,带内部放大器的驱动光耦和模拟量输入的光耦损坏居多。

  驱动光耦可以使用指针万用表的电阻挡,一般选取X10Ω挡就可以,可以使用此挡点亮光耦内部的发光二极管,如果光耦输出端无须接电源,则可直接使用数字万用表二极管挡测试输出响应,如果光耦输出需要带电源,则测试时还需给光耦通电。有些电路板开关电源给电后,光耦就会得电,要测试光耦直接给前级驱动电流,万用表再测试响应电压就可以。

多功能高压电源系列2

        模拟光耦如A7800、A7840、A7860是常见的容易损坏的元件。A7800、A7840可以自制电路测试,市面上也有专用的测试架售卖。A7800、A7840最方便的测试方法就是不拆下通电,然后测试2,3脚之间电压以及6,7脚之间电压,如果输入电压为0,输出有-20mV,则判断光耦损坏。A7860属于数字量输出的光耦,一般在电路板上成对出现,要对其进行功能测试,需要配合其他芯片编程,测试比较麻烦。比较简易的测试方法是:通电后测试6,7脚对第5脚电压,如果两个A7860电压偏差太多,则必有一个损坏,这种情况干脆两个都换掉。

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